儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。

　　介電常數測試儀的使用方法是什么呢？

　　1.被測樣品的準備

　　被測樣品要求為園形，直徑25.4～27mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1～5mm之間，如太薄或太厚則測試精度就會下降，樣品要盡可能平直。

　　下面推薦一種能提高測試性的方法：準備二片厚0.05mm的園形錫膜，直徑和平板電容器極片一致，錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林，它起粘著作用，又能排除接觸面之間殘余空氣，把錫膜再粘在平板電容器兩個極片上，粘好后，極片呈鏡面狀為佳，然后放上被測樣品。

　　2.測試順序

　　先要詳細了解配用儀器的使用方法，操作時，要避免人體感應的影響。

　　a.把配用的儀器主調諧電容置于小電容量，微調電容置于－3pF。

　　b.把本夾具測試裝置插到儀器測試回路的“電容”兩個端子上，即插入到儀器上方接線銅柱的右邊兩個圓柱內。

　　c.配上相適應的高Q值電感線圈，選擇電感沒有特別的方法，只有試或憑經驗來選擇合適的那個，一般選擇使高頻儀器顯示Q值大的電感為合適。

　　注：以上步驟是為了使高頻儀器工作起來（儀器是LC諧振工作原理，所以要選擇合適的電感才能使儀器諧振）

　　d.調節(jié)平板電容器測微桿，使二極片相接為止，讀取刻度值記為DO。

　　e.再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間，調節(jié)平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調節(jié)時要用測微桿，以免夾得過緊或過松），這時能讀取新的刻度值，記為D1，這時樣品厚度D2=D1－D0。

　　注：以上d和e兩步是測出被測樣片的厚度，方便后面計算介電常數時用。

　　f.把園筒電容器置于7mm處（該值不是的，我們一般在測的時候放到7mm處就可以測了，不過有的時候在做到h步0驟時順時針旋轉完刻度了Q值還沒有達到一半，這時就要適當的把7mm刻度調整到9mm或更大了）。

　　g.改變配合介電常數測試儀頻率，使之諧振，讀得Q值。（如果測試材料樣片有“要求的測試頻率”，那么就先把頻率定位到該頻率，然后再調節(jié)儀器的主調電容，使儀器諧振（即儀器的Q值顯示為大）；如果不知道在頻率下測試的話，我們一般把頻率放在1MHz下來調試，然后再調節(jié)主調電容使儀器工作）。

　　h.先順時針方向，后逆時針方向，調節(jié)園筒電容器，讀取當儀器指示Q值為原值的一半時測微桿上二個刻度值，取這二個值之差，記為M1。（先記下園筒電容在7mm時儀器諧振時的大Q值，即d步驟測得的Q值；然后調節(jié)園筒電容器，看儀器的Q值顯示為原來的一半時，讀取園筒電容器上邊的刻度為多少，要順時針和逆時針旋轉兩次取兩個刻度值；如果園筒電容器順時針轉到0刻度時Q值還沒有到一半，那么就要返回到第f步驟把園筒電容器置于9mm處或更大，重新操作）。

　　i.再調節(jié)園筒電容器，使儀器再次諧振（即把園筒電容器調回到7mm處）。

　　j.取出平板電容器中的樣品，這時儀器又失諧，調節(jié)平

　　板電容器，使再諧振，讀取測微桿上的讀值D3，其變化值為

　　D4=D3－D0。

　　k.和h款操作一樣，得到新的二個值之差，記為M2。

　　3.計算測試結果

　　被測樣品的介電常數：Σ＝D2/D4；被測樣品的損耗角正切值：tgδ＝K（M1－M2）/15.5；式中：K為園筒電容器線性變化率，一般為0.33。